Machinebuilding Bulgaria  
Ехнатон
Ехнатон
Hurco

Фирмена публикация

Решенията за техническа чистота на ZEISS осигуряват висока производителност и прецизност

09.09.2022
 

Проектирани да отговорят на нуждите на производствената промишленост, решенията за техническа чистота на ZEISS включват високо-производителни системи за идентификация и характеризиране на частиците, които при това са лесни и интуитивни за ползване. Те могат да бъдат внедрявани на много места и във всякакви производствени и индустриални среди и могат да се използват от потребители без познания в областта на микроскопията.
 
С решенията за техническа чистота на ZEISS може не само да се установи наличието на замърсяване с частици, но и да се определи източникът на това замърсяване. Възможността за комбиниране на данни от оптични и електронни микроскопи за получаване на допълнителна информация е особено полезна. Така потребителите получават задълбочен поглед върху причината за замърсяването.
 
Технологията One-Scan на ZEISS спомага за увеличаване на производителността с 50%, тъй като с нея с един филтър се получават данни от различни типове изображения за по-бързо разграничаване на метални лъскави и нелъскави частици. През 2021 г. технологията спечели годишната награда за решения за чисто производство REINER! на германския технологичен институт Fraunhofer IPT.
 
Оптични микроскопски системи за установяване на потенциални рискове от замърсяване
С помощта на оптичните микроскопи на ZEISS частиците могат да се класифицират според количеството, размерите и морфологията им, като при това се разграничат металните от неметалните частици и влакна с размер до 2 μm. В резултат могат да се изготвят доклади за техническа чистота съобразно с избраните индустриални стандарти.
 
Сравнителен анализ на частиците в едни процес
Определянето на частиците от критично значение за процесите и идентифицирането им е лесно с помощта на сравнителната микроскопия, която комбинира данни от оптични и електронни микроскопи в един работен процес.
 
Електронна микроскопия и EDS системи за определяне на източника на замърсяване
С тяхна помощ могат да се измерват морфологичните особености на частиците и да се използва напълно автоматизиран анализ, за да се класифицират частиците според химичния им състав. ZEISS SmartPI – софтуерът за анализ на частици за електронни микроскопи, автоматизира откриването, анализа и класифицирането на частиците, като обединява управлението на микроскопа, обработката на изображенията и анализа на елементите в едно приложение.
 
Повече за преимуществата на решенията за техническа чистота на ZEISS вижте тук.

 

 

 

 

 

 

 

 

ZEISS България
Индустриални решения за осигуряване на качество
Тел.: +359 2 9515 971
Имейл: info.metrology.bg@zeiss.com
www.zeiss.com

     
Източник: ZEISS

Ключови думи: ZEISS   техническа чистота   микроскопи   микроскопия   замърсяване с частици   ZEISS SmartPI   One-Scan  

Област: Машиностроене  

Hurco
SpaceCAD
IEC MachTech
hofmann
РАИС
Galika
Rosler

АБОНИРАЙТЕ СЕ за единствения у нас тематичен бюлетин
НОВИНИТЕ ОТ МАШИНОСТРОЕНЕТО
на специализирания портал MachineBuilding-Bulgaria.com
БЕЗПЛАТНО, професионално, всяка седмица на вашия мейл!


CADPoint
Атлас Техник

Последно от Фирмена публикация

IEC MachTech
IndustryInfo

Действителни собственици на настоящото издание са Теодора Стоянова Иванова и Любен Георгиев Георгиев

  Продуктови офертиФирмена публикацияБизнесВидео на седмицатаПредстоящоТехнологииОбществени поръчки/ТърговеОбучения/СеминариПроектиИнвестицииРеализацииОбяви за работаСъбитията
 

ПРЕПОРЪЧВАМ МАТЕРИАЛ


 
 
момент...